亚洲精品一二三区-久久

合肥市亚洲精品一二三区-久久電路測試產業基地

可靠性驗證與測試

    為了了(le)解(jie)、評價(jia)、提(ti)高(gao)和分析產(chan)品可靠性(xing)水平(ping),通(tong)過模(mo)擬(ni)實(shi)施產品實際(ji)工(gong)作(zuo)環(huan)境(jing)中的應(ying)力條(tiao)件來暴露(lu)產品的潛(qian)在缺陷(xian),獲(huo)取(qu)相關的產品可靠性特(te)征(zheng)信息(xi),從而提高並驗(yan)證(zheng)產品的(de)可靠(kao)性水平。在產品的整個(ge)壽命周(zhou)期內,其可靠性不(bu)僅(jin)受(shou)到(dao)設(she)計、製(zhi)造(zao)階(jie)段(duan)的影響,同時(shi)也受到管理水平和(he)試驗能(neng)力約(yue)束(shu)。產品可靠性試(shi)驗在保(bao)障產品的可(ke)靠性達到設計的可靠性要求(qiu)過程中起著(zhu)至(zhi)關重(zhong)要的作用(yong)。

測試平台

TCT:高低溫循環測試

實驗項目:
高低溫(wen)循環
高溫儲存(cun)
低(di)溫儲存
實驗能力:
實驗溫度:-65℃~175 ℃
高低溫轉換速率(lv):<5min

THT:恒溫恒濕老(lao)化(hua)測試

實驗項(xiang)目(mu):
恒(heng)溫恒濕(shi)存儲
恒溫儲存
恒濕儲(chu)存
實驗能力(li):
實驗溫度(du):-70℃~150 ℃
實驗濕度:30%~100%RH

PCT:高溫高壓蒸煮測試

實驗項目:
高壓蒸(zheng)煮
實驗能力:
實驗溫度:121℃
實驗濕度:100%RH
實驗壓(ya)強:2atm

HTST:高溫存儲老化測試

實驗項目:
高溫存儲
實驗能力:
實驗溫度:≤260℃
持續時長(zhang):1000H

X-Ray:通用型離(li)線(xian)X-Ray檢測

實驗項目:
銀漿空洞(dong)檢測
塑封(feng)密(mi)度檢(jian)測(ce)
失效分析
實驗能力:
上限(xian)電壓:90KV

C-SAM:超(chao)聲(sheng)掃描電(dian)子顯(xian)微(wei)鏡

實驗項目:
封裝結構(gou)內(nei)部裂(lie)紋檢測
封裝結(jie)構內部分(fen)層檢測
封裝結構內部(bu)空洞、氣泡(pao)、空隙等缺(que)陷檢測
實驗能力:
點掃(sao)描(miao)、塊(kuai)掃描、層(ceng)掃描
穿透式掃描

IR Reflow Oven:回(hui)流(liu)焊實驗

實驗項目:
模擬SMT實際狀況
可靠性試驗
實驗能力:
6溫區
最高溫區(qu):300℃
溫差:±2℃

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